SN74ABT8245DW, Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube

SN74ABT8245DW, Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Изображения служат только для ознакомления,
см. техническую документацию
1 080 руб.
Мин. кол-во для заказа 50 шт.
Кратность заказа 25 шт.
от 100 шт.1 000 руб.
Добавить в корзину 50 шт. на сумму 54 000 руб.
Плати частями
от 13 500 руб. × 4 платежа
Номенклатурный номер: 8002055579
Артикул: SN74ABT8245DW
Бренд: Texas Instruments

Технические параметры

EU RoHS Compliant
ECCN (US) EAR99
Part Status Active
HTS 8542.39.00.01
PCB changed 24
Lead Shape Gull-wing
Package Length 15.6(Max)
Package Width 7.6(Max)
Package Height 2.35(Max)
Mounting Surface Mount
Product Category Scan Test Device
Minimum Operating Temperature (°C) -40
Maximum Operating Temperature (°C) 85
Packaging Tube
Maximum Operating Supply Voltage (V) 5.5
Minimum Operating Supply Voltage (V) 4.5
Absolute Propagation Delay Time (ns) 14.2
Typical Operating Supply Voltage (V) 5
Pin Count 24
Supplier Package SOIC
Standard Package Name SOP

Техническая документация

Дополнительная информация

Калькуляторы группы «Микросхемы стандартной логики»
Типы корпусов импортных микросхем