SN74ABT8543DW, Scan Test Device
![SN74ABT8543DW, Scan Test Device](https://static.chipdip.ru/lib/518/DOC006518154.jpg)
Изображения служат только для ознакомления,
см. техническую документацию
см. техническую документацию
2 630 руб.
Кратность заказа 20 шт.
Добавить в корзину 20 шт.
на сумму 52 600 руб.
Плати частями
от 13 150 руб. × 4 платежа
от 13 150 руб. × 4 платежа
Описание
Semiconductor - IC > Standard Logic > Logic & Timing Misc
Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver
Технические параметры
Вид монтажа | SMD/SMT |
Время задержки распространения | 4.5 ns |
Диапазон рабочих температур | 40 C to + 85 C |
Категория продукта | Специальные функциональные логические элементы |
Количество контуров | 2 |
Коммерческое обозначение | SCOPE |
Максимальная рабочая температура | + 85 C |
Минимальная рабочая температура | 40 C |
Подкатегория | Logic ICs |
Рабочее напряжение питания | 4.5 V to 5.5 V |
Размер фабричной упаковки | 20 |
Серия | SN74ABT8543 |
Тип продукта | Specialty Function Logic |
Торговая марка | Texas Instruments |
Упаковка | Tube |
Упаковка / блок | SOIC-28 |
Функция | Scan Test Device with Latched Transceiver |
Техническая документация
Дополнительная информация
Калькуляторы группы «Микросхемы стандартной логики»
Типы корпусов импортных микросхем